Scanning Electron Microscope (SEM), FEI QUANTA 450
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM), FEI QUANTA 450
รายละเอียดเกี่ยวกับอุปกรณ์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Microscope, SEM) FEI QUANTA 450 ประสิทธิภาพสูง เป็นเครื่องมือที่ใช้ตรวจสอบพื้นผิวภายนอกของวัสดุ ที่มีกำลังขยาย 50 – 300,000 เท่า โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพซึ่งมีลักษณะ เป็นภาพ 3 มิติ พร้อมด้วยเทคนิค Energy Dispersive Spectroscopy, EDS หรือที่เรียกว่า EDX ซึ่งสามารถวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมี วิเคราะห์หาชนิดและปริมาณของธาตุในวัสดุ และสามารถวิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิวตัวอย่างที่ศึกษาได้ รวมทั้งสามารถถ่ายภาพตัวอย่างได้หลากหลายโดยไม่มีความจำเป็นต้องเคลือบผิวด้วยสารตัวนำไฟฟ้าก่อนการถ่ายภาพ โดยเลือกระบบสุญญากาศในห้องใส่ตัวอย่างที่เหมาะสมสำหรับตัวอย่างแต่ละประเภท ได้แก่
- ระบบสุญญากาศระดับสูง(High Vacuum) สำหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็ง แห้ง และนำไฟฟ้า เช่น โลหะ เป็นต้น
- ระบบสุญญากาศระดับต่ำ(Low Vacuum) สำหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็ง แห้ง และไม่นำไฟฟ้าเช่น พอลิเมอร์ ยาง เป็นต้น
- ระบบสุญญากาศระดับสภาวะแวดล้อม(Environmental SEM) ที่สามารถทำงานที่ความดัน 10 ถึง 2600 Pa เหมาะกับตัวอย่างที่ มีความชื้น มีน้ำเป็นองค์ประกอบ สามารถปรับระดับความชื้นในห้องใส่ตัวอย่างได้ตามความต้องการและสามารถวัดตัวอย่างที่มีอุณหภูมิต่ำได้ เช่น ไอครีม ตัวอย่างแช่แข็ง ตัวอย่างทางชีวภาพ ทางการแพทย์ เป็นต้น
อัตราค่าใช้บริการ
